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迷你测试7200FH/7400FH 磁厚计
◆用非破坏性高精度测量非磁性材料的厚度
测量的目标球的再现性0.5%以下的设计
測定方式 | 静磁気式(Magnetostatic) |
測定範囲※ | 根据使用的传感器不同 |
FH-4传感器:0~9mm | |
FH-10传感器:0~24mm | |
画面表示 | LCD、图表显示(7400FH) |
記録ベース | 1、2、5、10、20回/秒 |
測定単位 | μm、㎜/mil、inch |
メモリ | 7200FH : 1バッチ、10万点 |
7400FH : 200バッチ、24万点 | |
統計表示 | 測定回数、測定値、平均値、標準偏差、最大値、最小値 |
インターフェース | 红外线、选项(USB、RS-232) |
使用温度 | -10~60℃( 結露しないこと) |
電源 | 单3干电池(1.5V×4、AC适配器(可选) |
寸法重量 | 89(W)×153(H)×32(D)㎜、310g |
付属品 | 数据传输软件、行李箱、外壳保护壳 |
日本SANKO三高涡电流式膜厚计7200FH
SP-1100D用支架
FN-325(両用)连接线
Fe-20连接线
Fe-2.5LwA膜厚计
Fe-0.6Pen连接线
Fe-2.5L(NFe-2.0L)连接线
SWT用 Fe-2.5连接线
SM-Pen膜厚计
有
SL-200E膜厚计
SL-5P膜厚计传感器
SL-120C膜厚计
Pro-2电磁式膜厚计
Pro-1电磁式膜厚计
SP-1100D膜厚计
SM-1500D膜厚计
UNIBOY-M膜厚计
SAMAC-F膜厚计
SWT-9000F膜厚计
CTR-2000III膜厚计
SAMAC-PRO膜厚计
SAMAC-FN膜厚计
SANKO山高SWT-9000+FN-325膜厚计
SWT-9300膜厚计
SWT-9200膜厚计
SWT-9100膜厚计
SWT-9000膜厚计
电话
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